Огляд Елементів
Ознайомтеся з нашою колекцією елементів
Тенденції розвитку товарознавства в сучасних умовах
Дослідження присвячено питанню розвитку товарознавства в сучасних умовах. Розглянуто товарознавст...
Electroluminescence of InGaN/GaN heterostructures at the reverse bias and nitrogen temperature
The electroluminescence spectra at reverse biases in LED InGaN/GaN heterostructures at liquid nit...
Оцінювання кількості вторинних дефектів програмних засобів шляхом комплексування модифікованих моделей росту надійності Джелінські-Моранди і Шика-Волвертона
Виконано аналіз множин моделей оцінювання надійності програмних засобів (МНПЗ) або за іноземною н...
Знаходження параметрів скоригованої лінії експоненціальної апроксимації експериментальних даних виявлених дефектів при оцінюванні кількості вторинних дефектів програмних засобів
У статті проведено аналіз місця характеристики надійність програмного забезпечення в структурі мо...
The Secondary Software Faults Number Evaluation Based on Correction of the Experimental Data Exponential Line Approximation
У статті проведено аналіз існуючих підходів до проблеми вторинних дефектів програмних засобів. Ро...
Тенденції розвитку товарознавства в сучасних умовах
Дослідження присвячено питанню розвитку товарознавства в сучасних умовах. Розглянуто товарознавство як прикладну дисципліну економіки, яка приділяє велику увагу характеристикам товарів. Автори наго...
Стаття 2022/02/24Electroluminescence of InGaN/GaN heterostructures at the reverse bias and nitrogen temperature
The electroluminescence spectra at reverse biases in LED InGaN/GaN heterostructures at liquid nitrogen temperatures were studied. At the reverse bias and T = 77 K, avalanche microplasmas breakdowns...
Стаття 2022/02/09Оцінювання кількості вторинних дефектів програмних засобів шляхом комплексування модифікованих моделей росту надійності Джелінські-Моранди і Шика-Волвертона
Виконано аналіз множин моделей оцінювання надійності програмних засобів (МНПЗ) або за іноземною назвою моделей зростання надійності ПЗ (Software Reliability Growth Models – SRGM). Досліджено ймовір...
Стаття 2020/03/18Знаходження параметрів скоригованої лінії експоненціальної апроксимації експериментальних даних виявлених дефектів при оцінюванні кількості вторинних дефектів програмних засобів
У статті проведено аналіз місця характеристики надійність програмного забезпечення в структурі моделей якості програмного забезпечення. Визначено, що в ієрархічній структурі більшості моделей якост...
Стаття 2019/02/18The Secondary Software Faults Number Evaluation Based on Correction of the Experimental Data Exponential Line Approximation
У статті проведено аналіз існуючих підходів до проблеми вторинних дефектів програмних засобів. Розглянуто методику оцінювання числа вторинних дефектів, що ґрунтується на порівнянні даних статистики...
Стаття 2018/10/01