Рекомендований матеріал: Non-destructive control of critical defects and diagnostics of InGaN/ GaN heterostructures in power LEDs by using their microplasma characteristics = Неруйнівний контроль критичних дефектів та діагноур InGaN/GaN у світлодіодах живлення за допомогою їх характеристик мікроплазми

Заповніть форму, приведену нижче, щоб порекомендувати цей матеріал комусь. Поля позначені зірочкою „*“ - обов’язкові.