Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://reposit.nupp.edu.ua/handle/PoltNTU/4231
Повний запис метаданих
Поле DC | Значення | Мова |
---|---|---|
dc.contributor.author | Руденко, O.А. | - |
dc.contributor.author | Одарущенко, О.Б. | - |
dc.contributor.author | Руденко, З. | - |
dc.contributor.author | Руденко, М. | - |
dc.date.accessioned | 2018-10-01T12:30:23Z | - |
dc.date.available | 2018-10-01T12:30:23Z | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier.uri | http://reposit.pntu.edu.ua/handle/PoltNTU/4231 | - |
dc.description | Rudenko O.A. The Secondary Software Faults Number Evaluation Based on Correction of the Experimental Data Exponential Line Approximation / O.A. Rudenko, E.B. Odarushchenko, Z. Rudenko, M. Rudenko // Conference Proceedings of 2018 IEEE 9th International Conference on Dependable Systems, Services and Technologies DESSERT’2018. - Kyiv, 2018. - P. 401-405. | uk_UA |
dc.description.abstract | The paper presents an analysis of existing approaches to the secondary software faults problem. The new method for secondary software faults assessment is considered. It is based on the comparison of secondary software faults statistics and the data from corrected exponential approximation line of faults trend. A comparative analysis of the obtained results with the results obtained by estimating the number of secondary faults by the statistical data of the detected faults using the regression line, which characterizes the indirect proportion of the number of detected faults to time, is carried out. | uk_UA |
dc.description.abstract | У статті проведено аналіз існуючих підходів до проблеми вторинних дефектів програмних засобів. Розглянуто методику оцінювання числа вторинних дефектів, що ґрунтується на порівнянні даних статистики числа дефектів і даних відкоригованої лінії експоненціальної апроксимації тренда дефектів. Проведено порівняльний аналіз одержаних результатів з результатами, одержаними методом оцінювання числа вторинних дефектів за статистичними даними виявлених дефектів з використанням лінії регресії, що характеризує обернено пропорційну залежність числа виявлених дефектів від часу. | uk_UA |
dc.language.iso | en | uk_UA |
dc.publisher | Національний авіаційний університет, Київ | uk_UA |
dc.subject | software reliability | uk_UA |
dc.subject | fault | uk_UA |
dc.subject | secondary software fault | uk_UA |
dc.subject | exponential line approximation | uk_UA |
dc.subject | software reliability growth model | uk_UA |
dc.subject | надійність програмного забезпечення | uk_UA |
dc.subject | дефект | uk_UA |
dc.subject | експоненціальна лінія апроксимації; надійність програмного забезпечення | uk_UA |
dc.subject | вторинний дефект програмного забезпечення | uk_UA |
dc.subject | модель росту | uk_UA |
dc.title | The Secondary Software Faults Number Evaluation Based on Correction of the Experimental Data Exponential Line Approximation = Оцінювання числа вторинних дефектів програмних засобів з використанням коригування лінії експоненціальної апроксимації експериментальних даних | uk_UA |
dc.type | Наукові статті | uk_UA |
Розташовується у зібраннях: | Кафедра комп'ютерних та інформаційних технологій і систем |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
Стаття.pdf | 366.34 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.