Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://reposit.nupp.edu.ua/handle/PoltNTU/4231
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorРуденко, O.А.-
dc.contributor.authorОдарущенко, О.Б.-
dc.contributor.authorРуденко, З.-
dc.contributor.authorРуденко, М.-
dc.date.accessioned2018-10-01T12:30:23Z-
dc.date.available2018-10-01T12:30:23Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.urihttp://reposit.pntu.edu.ua/handle/PoltNTU/4231-
dc.descriptionRudenko O.A. The Secondary Software Faults Number Evaluation Based on Correction of the Experimental Data Exponential Line Approximation / O.A. Rudenko, E.B. Odarushchenko, Z. Rudenko, M. Rudenko // Conference Proceedings of 2018 IEEE 9th International Conference on Dependable Systems, Services and Technologies DESSERT’2018. - Kyiv, 2018. - P. 401-405.uk_UA
dc.description.abstractThe paper presents an analysis of existing approaches to the secondary software faults problem. The new method for secondary software faults assessment is considered. It is based on the comparison of secondary software faults statistics and the data from corrected exponential approximation line of faults trend. A comparative analysis of the obtained results with the results obtained by estimating the number of secondary faults by the statistical data of the detected faults using the regression line, which characterizes the indirect proportion of the number of detected faults to time, is carried out.uk_UA
dc.description.abstractУ статті проведено аналіз існуючих підходів до проблеми вторинних дефектів програмних засобів. Розглянуто методику оцінювання числа вторинних дефектів, що ґрунтується на порівнянні даних статистики числа дефектів і даних відкоригованої лінії експоненціальної апроксимації тренда дефектів. Проведено порівняльний аналіз одержаних результатів з результатами, одержаними методом оцінювання числа вторинних дефектів за статистичними даними виявлених дефектів з використанням лінії регресії, що характеризує обернено пропорційну залежність числа виявлених дефектів від часу.uk_UA
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherНаціональний авіаційний університет, Київuk_UA
dc.subjectsoftware reliabilityuk_UA
dc.subjectfaultuk_UA
dc.subjectsecondary software faultuk_UA
dc.subjectexponential line approximationuk_UA
dc.subjectsoftware reliability growth modeluk_UA
dc.subjectнадійність програмного забезпеченняuk_UA
dc.subjectдефектuk_UA
dc.subjectекспоненціальна лінія апроксимації; надійність програмного забезпеченняuk_UA
dc.subjectвторинний дефект програмного забезпеченняuk_UA
dc.subjectмодель ростуuk_UA
dc.titleThe Secondary Software Faults Number Evaluation Based on Correction of the Experimental Data Exponential Line Approximation = Оцінювання числа вторинних дефектів програмних засобів з використанням коригування лінії експоненціальної апроксимації експериментальних данихuk_UA
dc.typeНаукові статтіuk_UA
Розташовується у зібраннях:Кафедра комп'ютерних та інформаційних технологій і систем

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Стаття.pdf366.34 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.